顆粒圖像分析儀

簡要描述：WKL-702 顆粒圖像分析儀1、圖像多種處理方法：影像增強(qiáng)、圖像疊加、局部提取、定倍放大、對比度、亮度調(diào)節(jié)、顆粒定位、自動分割等幾十種功能。

2、具有圓度、曲線、周長、面積、直徑等幾十種幾何參數(shù)的基本測量。

3、可直接按顆粒粒徑的粒徑面積、形狀等多類參數(shù)，以線性或非線性統(tǒng)計方式繪出分布圖。

所屬分類：激光粒度儀

更新時間：2025-02-26

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詳細(xì)說明：

WKL-702 顆粒圖像分析儀

產(chǎn)品特點

????將傳統(tǒng)的顯微測量方法與現(xiàn)代的圖像技術(shù)相結(jié)合，是一種采用圖像法進(jìn)行顆粒形貌分析和顆粒測量的顆粒分析儀器，由光學(xué)顯微鏡、數(shù)字CCD攝像機(jī)和顆粒圖像處理分析軟件組成。該系統(tǒng)通過專用的數(shù)字?jǐn)z像機(jī)將圖像傳輸給電腦，通過專用的顆粒圖像處理分析軟件對圖像進(jìn)行分析處理，具有直觀、形像、準(zhǔn)確和測量范圍寬等特點。

1、圖像多種處理方法：影像增強(qiáng)、圖像疊加、局部提取、定倍放大、對比度、亮度調(diào)節(jié)、顆粒定位、自動分割等幾十種功能。

2、具有圓度、曲線、周長、面積、直徑等幾十種幾何參數(shù)的基本測量。

3、可直接按顆粒粒徑的粒徑面積、形狀等多類參數(shù)，以線性或非線性統(tǒng)計方式繪出分布圖。

WKL-702 顆粒圖像分析儀

技術(shù)參數(shù)

儀器型號	WKL-702
測量范圍	0.1～3000（微米）
總放大倍數(shù)	8000倍
最大分辨率	0.1微米/像素
重復(fù)性	誤差≤±1％
自動分割速度	≤1秒
數(shù)字?jǐn)z像機(jī)(CCD)	500萬像素
數(shù)據(jù)儲存	電腦需另配（i5+8G內(nèi)存+純固態(tài)硬盤或雙硬盤以上配置）
通信接口	USB
操作系統(tǒng)	Windows 98/XP/7/8/10/11系統(tǒng)均可
電源	AC220V ±10％，50 Hz， 200 W
儀器尺寸	270mm×410mm×440mm
儀器凈重	15kg

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